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Semi-analytical study of defective pile-beam systems under transient excitation: Implications for low-strain testing

Structurae ne peut pas vous offrir cette publication en texte intégral pour l'instant. Le texte intégral est accessible chez l'éditeur. DOI: 10.1016/j.soildyn.2023.108011.
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    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10727851
  • Publié(e) le:
    30.05.2023
  • Modifié(e) le:
    30.05.2023
 
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