Experimental investigation on interfacial defect detection for SCCS with conventional and novel contact NDT techniques
| Auteur(s): |
Hongbing Chen
Gokarna Chalise Shiyu Gan Xin Nie
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|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, 30 août 2023, n. 10, v. 32 |
| Page(s): | 105026 |
| DOI: | 10.1088/1361-665x/acf015 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10734217 - Publié(e) le:
03.09.2023 - Modifié(e) le:
25.09.2023
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