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Development of metric models to predict annoyance due to tonal office noise

Auteur(s): ORCID (Ray W. Herrick Lab, Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA)
(Ray W. Herrick Lab, Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA)
(Ray W. Herrick Lab, Purdue University, West Lafayette, Indiana, USA)
Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Science and Technology for the Built Environment, , n. 8, v. 28
Page(s): 1-15
DOI: 10.1080/23744731.2022.2096974
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10689617
  • Publié(e) le:
    13.08.2022
  • Modifié(e) le:
    23.09.2022
 
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