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In situcharacterization of NiTi based shape memory thin films by optical measurement

Auteur(s):


Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Smart Materials and Structures, , n. 2, v. 15
Page(s): N29-N35
DOI: 10.1088/0964-1726/15/2/n01
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10223046
  • Publié(e) le:
    04.12.2018
  • Modifié(e) le:
    04.12.2018
 
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